WINDIAS植物图象样品分析仪
北京哈维斯廷科技有限公司 WINDIAS植物图象样品分析仪： 使用照相分析，样品图像通过CCD摄像机成像，然后由图像截获卡送到计算机，图像分析软件对样品图像进行分析处理。
os 30p 快速植物胁迫测量仪
使用叶绿素荧光分析植物胁迫 在400-700nm的光辐射（PAR）是光合作用所需的主要的能量。大部分叶片接受的光被吸收用来进行光化学过程。然而，有一小部分的光从反应中心以更长波长的光重新发散出去，这些被重新发散出的光称为叶绿素荧光。
Vertex IV超声波树木测高测距仪
VertexIV是野外进行高度、距离和水平距离精确测量的理想仪器，测量结果精确而可靠，已成为世界上野外测量工作的标准型仪器。超声测量系统和红色十字瞄准器可以保证在密集的丛林中和复杂的环境下获得精确的结果，可在30m内任意距离测量单个目标高度，并可记录该目标的6个
高级型连续光合作用测定仪，便携式高级光合仪，光合系统测定仪
S-8100高级型连续光合作用测定仪具有自动化程度高、在野外不但测量项目多，而且功能强大，不但可以现场直接测量植物光合，同时可以连续在线测量，做到其他品牌很难做到的自动控光，自动开放式叶室，还能连续工作
QT-RW根系分析系统
QT-RW系统基于澳大利亚联邦科学与工业研究组织的设计成果。通过水流的旋转运动，将根须和泥土轻柔分离，清洗过程中分离出的根系和终清洗完的根系被收集在500微米的网孔过滤器中。软件可以分析根总长、根平均直径、根总面积、根总体积、根尖计数、分叉计数、交叠计数、
WinDIAS 3叶面图像分析系统(高速版)
WinDIAS 3高速型叶面图像分析系统是一款高级的图像分析系统，可对叶面进行面积、周长、长度、宽度、目标计等分析功能，可自动测量病变、健康和虫害部分的叶面积，分析图像可以通过摄像机或扫描仪获取，并可选传送带附件进行大量叶片处理。
RAP-RHC型高通量植物表型参数自动提取系统（室内）
高通量植物表型参数自动提取系统集光电技术、自动控制和机械化技术于一体，实现水稻、玉米、小麦、油菜等盆栽植物表型参数全自动、无损、高通量准确提取。
Vertex Ⅳ超声波树木植物测高测距仪
北京哈维斯廷科技有限公司 Vertex Ⅳ超声波树木测高测距仪，专为测量物体的高度和距离设计，可测量记录多个高度。可用该仪器围绕反射器转动60/ 360度从而精确划定
多参数植物根分析系统 植物根扫描仪 根测定仪
LC-4800植物根系检测系统是一套用于植物根系全面分析的多参数根系图像扫描分析系统，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，广泛运用于根系形态和构造研究。